affichage rétro-éclairé
Non
tension max. catégorie de circuit de mesure
1000 V
coupe-circuit automatique
Oui
mesure de la vitesse de rotation
Oui
analyse d'harmonique/qualité de puissance
Oui
mesure de puissance et d'énergie
Oui
test de symétrie de câble pour raccordements à deux fils a-b-E
Oui
mesure de longueur de câble
Oui
tension d'essai nominale 50 V
Oui
tension d'essai nominale 10 V
Oui
mesure de la température TC
Non
mesure de la température RTD
Oui
mesure en milliohms avec technique 4 conducteurs (raccordement Kelvin)
Oui
plus petite résolution, fréquence
0,001 Hz
plage de mesure de la fréquence, max.
9999 kHz
plus petite résolution, capacité
0,00001 µF
plage de mesure de la capacité max.
99990 µF
plus petite résolution, mesure température
autre
plage de mesure de la température max.
1000 °C
mesure de la température
Non
mesures du facteur de durée
Oui
mémoire de valeurs de crête
Oui
mesure de valeurs relatives
Oui
tension d'essai nominale 500 V
Oui
tension d'essai nominale 250 V
Oui
tension d'essai nominale 1 000 V
Non
tension d'essai nominale 100 V
Oui
stockage de valeur minimal
Non
catégorie de circuit de mesure
CAT III
stockage de valeurs maximal
Non
plage de mesure de la résistance max.
99.99 MOhm
plage de mesure du courant max. CC
9999 A
plage de mesure du courant max. CA
9999 A
plage de mesure de la tension max. CC
999.9 V
plage de mesure de la tension max. CA
750 V
mesure de conductivité
Oui
plus petite résolution, résistance
0,1 ohm
plus petite résolution, courant alternatif
1 µA
plus petite résolution, tension alternative
0,01 mV
plus petite résolution, courant continu
1 µA
plus petite résolution, tension continue
0,01 mV
mesure de l'inductance
Oui
test de continuité/test de diodes
Non
Version anti-déflagration
Oui
mémoire de valeur momentanée (DATA Hold)
Non
avec mesure de niveau (dB)
Oui
mesure de la fréquence
Non
mesure de la capacité
Non
plage de mesure de résistance d'isolement
0...5 MOhm
mesure de la valeur efficace vraie(TRMS)
Non
sélection de la plage de mesure
manuel/automatique
mémoire de valeur mesurée
Oui